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在當(dāng)今這個(gè)飛速發(fā)展的科技時(shí)代，人們對(duì)于工業(yè)生產(chǎn)中各種設(shè)備的需求越來越高。而在這些設(shè)備中，表面積測(cè)試儀的應(yīng)用尤為廣泛，因?yàn)樗梢钥焖?、?zhǔn)確地測(cè)量物體的表面積，幫助工程師們進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造。其中，Bet比表面積測(cè)試儀作為一種常用的測(cè)試儀器，其優(yōu)美的工藝和精密的測(cè)量功能，讓人們對(duì)科技的奇妙之處有了更深層次的認(rèn)識(shí)。Bet比表面積測(cè)試儀是一種基于氣體吸附原理的測(cè)試儀器，其主要應(yīng)用于固體材料的表面積測(cè)量。Bet比法是指以比表面積為參數(shù)，對(duì)吸附劑與吸附物質(zhì)間的吸附現(xiàn)象進(jìn)行研究。利用這種方法，...

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗有什么區(qū)別介電特性是電介質(zhì)材料極其重要的性質(zhì)。在實(shí)際應(yīng)用中，電介質(zhì)材料的介電系數(shù)和介質(zhì)損耗是非常重要的參數(shù)。例如，制造電容器的材料要求介電系數(shù)盡量大，而介質(zhì)損耗盡量小。相反地，制造儀表絕緣器件的材料則要求介電系數(shù)和介質(zhì)損耗都盡量小。而在某些特殊情況下，則要求材料的介質(zhì)損耗較大。所以，通過測(cè)定介電常數(shù)（ε)及介質(zhì)損耗角正切（tgδ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)1、介電常數(shù)（ε):某一電介質(zhì)（如硅酸鹽、高分子材料）組成...

使用振實(shí)密度儀的時(shí)候經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一些問題，下面就簡(jiǎn)單介紹一下振實(shí)密度儀出現(xiàn)故障了該怎樣來判斷。1、振實(shí)密度偏小：如果振實(shí)的密度偏小，那么需要確定的基因有兩個(gè)：第一是測(cè)量的粉體粉末的質(zhì)量是否正確，要保證所需要測(cè)得的振實(shí)密度一定的情況下保證所測(cè)粉末的質(zhì)量是對(duì)的。第二是檢查振實(shí)密度儀上的頻率調(diào)節(jié)設(shè)置是否正確，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)一般是設(shè)置在250次的；2、振實(shí)密度儀無顯示：判斷方法有三，一是檢測(cè)振實(shí)密度儀與電源是否鏈接正確，鏈接正確打開電源后會(huì)有電源指示燈會(huì)亮；二是先隨便輸入一個(gè)值或頻率，看顯示...

粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。ZS703型粉體密度測(cè)試儀是我公司依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T5162-2006/ISO3953:1993（金屬粉末振實(shí)密度的測(cè)定）獨(dú)立研發(fā)制造的粉體密度測(cè)試儀器，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。儀器含蓋國(guó)標(biāo)GB/T5162-2006/ISO3953:1993中的各項(xiàng)指標(biāo)。ZS703型粉體密度測(cè)試儀由電機(jī)、振動(dòng)...

一、產(chǎn)品概述本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值，本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器，通過選配不同的測(cè)試電極，可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料，如：粉末、片材、薄膜和液體溶液等。本儀器測(cè)試量程比較款，可以到1018Ω，幾乎可以滿足于市場(chǎng)上所有的絕緣材料的測(cè)試。二、材料類型：適用于橡膠、塑料、薄膜、塊體等絕緣材料及粉體、液體、固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。三、適用客戶：適用于計(jì)量院、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、科研院所、生產(chǎn)企業(yè)研發(fā)、質(zhì)量品管檢測(cè)等用戶...

1.適用產(chǎn)品多：包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。2.功能強(qiáng)大，包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法：?jiǎn)吸c(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。吸、脫附等溫線分析。BJH中孔和大孔的孔體積，孔面積對(duì)孔徑的分布，總孔體積等?？梢约觮-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，...

粉體密度儀是研制的一種專門測(cè)試粉體振實(shí)密度的一種儀器，符合美國(guó)藥典關(guān)于藥品振實(shí)密度的規(guī)定，是一種通用的振實(shí)密度儀器。粉體密度儀由計(jì)數(shù)系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、執(zhí)行機(jī)構(gòu)以及附屬備件等組成，具有操作簡(jiǎn)便、經(jīng)久耐用、測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，適用于非金屬粉、金屬粉體、制藥、化工、電池、磨料以及科研教學(xué)等領(lǐng)域，是粉體行業(yè)振實(shí)密度測(cè)試的理想儀器。粉體密度儀的基本工作過程是將粉末量筒固定在機(jī)械振動(dòng)裝置上，振動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)機(jī)械振動(dòng)裝置上下振動(dòng)，裝有粉末的刻度量筒隨著機(jī)械驅(qū)動(dòng)裝置而振動(dòng)，隨著振動(dòng)次數(shù)的增加...

粉體電阻率測(cè)試儀在日常生活中經(jīng)常使用，但在實(shí)際操作過程中有時(shí)會(huì)遇到常見故障。接下來，小編將詳細(xì)解釋粉體電阻率測(cè)試儀的常見故障排除情況。1.掛鉤接觸不良當(dāng)粉體電阻率測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確測(cè)量時(shí)，使用鉤連接測(cè)試產(chǎn)品。鉤需要根據(jù)接觸社會(huì)發(fā)展與測(cè)試產(chǎn)品更好，否則接觸點(diǎn)放電將直接影響數(shù)據(jù)信息技術(shù)的應(yīng)用！特別是漏氣空氣氧化層過厚，或風(fēng)線沖擊，可能導(dǎo)致學(xué)生接觸一些不良現(xiàn)象。2.接地不良接地的不良影響很可能導(dǎo)致教學(xué)儀器維護(hù)或數(shù)據(jù)信息技術(shù)應(yīng)用的嚴(yán)重起伏。當(dāng)使用軸承端蓋法準(zhǔn)確測(cè)量電磁鉑時(shí)，負(fù)物質(zhì)損傷是由...